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光阻法粒度仪
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产品: 浏览次数:831光阻法粒度仪 
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最后更新: 2021-07-05 13:57
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详细信息
PSS光阻法粒度仪简介:
采用动态光散射(DynamicLightScattering,DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,粒径检测范围0.3nm–10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯(Gaussian)单峰算法和拥有独特技术的Nicomp多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。
纳米激光粒度仪技术优势
1、高灵敏度PMT/APD检测器;
2、可搭配不同功率光源;
3、准确度高,接近样品真实值;
4、快速检测,可以追溯历史数据;
5、结果数据以多种形式和格式呈现;
6、符合USP,CP等个多药典要求;
7、无需校准;
8、复合型算法:
(1)高斯(Gaussion)单峰算法与独特的Nicomp多峰算法自由切换
9、模块化设计便于维护和升级;
(1)可自动稀释模块(选配);
(2)自动进样系统(选配);
(3)搭配多角度检测器(选配);
Nicomp多峰分布概念
基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp系列仪器所特有的两个主要特点,Nicomp创始人DaveNicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布,这和实践生产生活中不相符,因为现实中很多样本是多分散体系,非单分散体系,而且高斯分布灵敏性不足,分辨率不高,这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论,大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。
光阻法粒度仪
http://www.labeach.cn/SonList-2269974.html
https://www.chem17.com/st478632/erlist_2269974.html
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